分布式测试架构设计(半导体无功老化上位机)

发布时间:2026/8/8 12:04:59
分布式测试架构设计(半导体无功老化上位机) 分布式测试架构设计(半导体无功老化上位机)针对多站点(A-F站)、多硬件设备、高实时性、高可靠性的工业场景,我为你设计了一套工业级分布式测试架构。一、整体架构图(逻辑视图)[客户端/监控端] [中央服务器 (Master)] │ │ ├── Web仪表盘 ├── Configuration Center ├── 移动端监控 ├── Test Orchestrator (全局调度) └── 报警推送 ├── Message Bus (SignalR / MQTT) │ ├── Distributed Cache (Redis) └── Central Database (PostgreSQL) ↓ (站点节点 - 可分布在多台工控机) [A站Node] [B站Node] [C站Node] [D站Node] [E站Node] [F站Node] │ │ │ │ │